美國天普大學計算機與信息科學系的教授應3044am永利集团3044noc的邀請，于2019年6月5日晚上，在3044am永利集团3044noc308學術報告廳室作了“Design erasure-coded data centers towards reliability, availability, and serviceability (RAS)”的學術報告。報告會由3044am永利集团3044noc院長胡志華教授主持，3044am永利集团3044noc科研骨幹、科研讀書班全體成員參加了報告會。
報告會上，何教授首先介紹了存儲節點故障引起的數據修複極大地影響擦出編碼數據中心的數據可靠性，可用性和可維護性（RAS）的現實問題。與被廣泛研究和優化的數據修複的恢複階段相比，數據修複的故障識别階段較少被研究。此外，在傳統的故障識别方案中，所有組塊共享相同的識别時間阈值，失去了進一步改進RAS的機會。
在本次講座中，何教授概述了他在數據存儲和I/O系統方面的研究工作。具體介紹RAFI，一種新穎的風險感知故障識别方案，通過使用不同的時間阈值來識别經曆不同數量的故障塊的條帶中的塊故障。對于高風險條帶中的那些塊，采用較短的識别時間，提高整體的數據可靠性和可用性。對于低風險條帶中的那些塊，采用較長的識别時間，減少修複網絡流量。這樣可以同時改善RAS。
學術報告結束後，參加會議的師生與何教授進行了交流與讨論，會場氣氛活躍，學術氛圍濃烈。
何緒斌博士簡介：
美國天普大學（位于美國東岸賓夕法尼亞州的費城）計算機與信息科學系的教授，同時也是存儲技術與架構研究（STAR）實驗室主任。何博士于2002年在美國羅德島大學獲得電子與計算機工程專業博士學位，分别于1997年和1995年獲得華中科技大學計算機科學專業碩士和理學學士學位。他的研究領域是數據存儲和I/O系統，包括大數據、雲存儲、非易失性存儲以及大型存儲系統的可擴展性研究。他在國際著名期刊和會議上發表了100多篇論文，如IEEE并行和分布式系統期刊（TPDS），并行和分布式計算期刊（JPDC），ACM存儲期刊和IEEE TDSC期刊，以及各種高級别的國際會議，如USENIX FAST，USENIX ATC，Eurosys，IEEE / IFIP DSN，IEEE INFOCOM，IEEE IPDPS，MSST，ICPP，MASCOTS，LCN等。他是IEEE NAS'2009的大會聯合主席，也是IPCCC'2017，ICPADS'2016，MSST'2010，IEEE NAS'2008和SNAPI'2007的程序委員會聯合主席。他曾擔任NSF的提案審查小組成員和該領域許多專業會議的委員會成員。何博士于2004年獲得ORAU Ralph E. Powe初級教師提升獎，2010年和2005年獲得TTU的Sigma Xi研究獎，2010年獲得TTU ECE最傑出教學獎，2015年獲得VCU ECE傑出研究員獎。何博士是多項研究項目的首席研究員，其項目資金總計超過300萬美元，主要由美國國家科學基金會（NSF）贊助。他擁有一項美國專利。何博士也是IEEE的高級成員，IEEE計算機協會和USENIX的成員。